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产品
评估电子设备
监测高度
光束间距
光束数量
型材截面
LA 16-50-750-960 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 750 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 16
型材截面: 12 x 24 mm
LA 16-50-750-960 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 750 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 16
型材截面: 12 x 24 mm
LA 24-50-1150-1360 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,150 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm
LA 24-50-1150-1360 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,150 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm
LA 32-50-1550-1760 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,550 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm
LA 32-50-1550-1760 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,550 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm
LA 40-50-1950-2160 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,950 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 40
型材截面: 12 x 24 mm
LA 40-50-1950-2160 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 1,950 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 40
型材截面: 12 x 24 mm
LA 48-50-2350-2560 I-D
评估电子设备: 集成
监测高度: 2,350 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 48
型材截面: 12 x 24 mm
LA 48-50-2350-2560 I-H
评估电子设备: 集成
监测高度: 2,350 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 48
型材截面: 12 x 24 mm