LI 测量版

LI 测量版

LI 测量型光幕用于目标测量以及要求苛刻的测量和识别任务。最重要的特征是分辨率高、响应时间短、以及便于整合的纤细型式。

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信息

  • 8
  • 11
产品
评估电子设备
监测高度
光束间距
光束数量
型材截面
LI 112-12.5-1388-1440 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,388 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 112
型材截面: 12 x 24 mm
LI 120-12.5-1488-1540 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,488 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 120
型材截面: 12 x 24 mm
LI 128-12.5-1588-1640 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,588 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 128
型材截面: 12 x 24 mm
LI 136-12.5-1688-1740 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,688 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 136
型材截面: 12 x 24 mm
LI 144-12.5-1788-1840 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,788 mm
光束间距: 12.5 mm
光束数量: 144
型材截面: 12 x 24 mm
LI 8-25-175-240 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 175 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LI 16-25-375-440 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 375 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 16
型材截面: 12 x 24 mm
LI 24-25-575-640 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 575 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm
LI 32-25-775-840 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 775 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 32
型材截面: 12 x 24 mm
LI 40-25-975-1040 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 975 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 40
型材截面: 12 x 24 mm