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LI 测量版

LI 测量版

LI 测量型光幕用于目标测量以及要求苛刻的测量和识别任务。最重要的特征是分辨率高、响应时间短、以及便于整合的纤细型式。

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信息

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产品
评估电子设备
监测高度
光束间距
光束数量
型材截面
LI 48-25-1175-1240 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,175 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 48
型材截面: 12 x 24 mm
LI 56-25-1375-1440 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,375 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 56
型材截面: 12 x 24 mm
LI 64-25-1575-1640 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,575 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 64
型材截面: 12 x 24 mm
LI 72-25-1775-1840 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,775 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 72
型材截面: 12 x 24 mm
LI 80-25-1975-2040 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,975 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 80
型材截面: 12 x 24 mm
LI 88-25-2175-2240 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 2,175 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 88
型材截面: 12 x 24 mm
LI 96-25-2375-2440 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 2,375 mm
光束间距: 25 mm
光束数量: 96
型材截面: 12 x 24 mm
LI 8-50-350-440 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 350 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 8
型材截面: 12 x 24 mm
LI 16-50-750-840 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 750 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 16
型材截面: 12 x 24 mm
LI 24-50-1150-1240 I
评估电子设备: 外部
监测高度: 1,150 mm
光束间距: 50 mm
光束数量: 24
型材截面: 12 x 24 mm